Détecteur de fluorescence X (XRF)

Les détecteurs de fluorescence X (XR) sont une forme de spectroscopie d'émission atomique (AES) qui consiste à diriger des rayons X de haute énergie vers la surface de l'échantillon à analyser. L'interaction de ces rayons X avec l'objet provoque l'émission de rayons X (fluorescents) secondaires. Chaque élément présent produit des rayons X avec des énergies différentes et celles-ci peuvent être détectées et affichées comme un spectre d'intensité par rapport à l'énergie. La position des pics identifie les éléments présents et la hauteur des pics indique la quantité de chaque élément présent. Cette technique est couramment utilisée dans les industries telles que l'exploitation minière et l'exploration minérale, le ciment, la céramique et le verre.

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